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GP-D1-C粉尘真密度测定实验装置

粉尘真密度测定实验装置一.实验原理 先将一定量的试样用天平称量(即求它的质量),然后放入比重瓶中,用液体浸润粉尘,再放入真空干燥器中抽真空排除粉尘颗粒间隙中的空气,从而得到该粉尘试样在真密度条件下的体积。根据质量和体积即可计算得到粉尘的真密度。

发布日期:2025-04-15

型号:GP-D1-C

厂商性质:生产厂家

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ME204E电子天平

电子天平 型号:ME204E采用人体程学,让日常称量轻松效。基本能唾手可得,日复日为您提供准确可靠的称量结果。

发布日期:2025-04-25

型号:ME204E

厂商性质:生产厂家

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HAD-2KG防电子天平

防电子天平 型号:HAD-2KG 防标志:ExibⅡCT5 ; 准确度等:Ⅲ; 具有计重与计数称量能; 十三种称量单位制转换能显示方式:6 位段码型LCD显示,绿色背光; AE0821本安电源; 充电时间为12h,待机时间100h; 显示分辨率1000~200000; 选配RS232接口;

发布日期:2025-04-25

型号:HAD-2KG

厂商性质:生产厂家

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FA2004电子天平

电子天平点: 外观新颖,轻巧,人性化手柄 大型电磁力传感器 内置RS232接口 天平线性修正设置 恢复天平出厂设置 四防震,称量速度可调 显示方式可调柔和背光液晶显示 自动零位跟踪可调自动故障诊断 自动校准动态温度量程范围去皮过载保护 载报警能计件、百分比称重 克、盎司、克拉等单位转换 LCD带背光显示 数字化多点线性修正,自动

发布日期:2025-04-17

型号:FA2004

厂商性质:生产厂家

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GP/SJT-A数显匀胶台

数显匀胶台/匀胶台 型号:GP/SJT-A 本机是用于半导体、集成电路及激光息商标制过程中,在硅片、掩模板、玻璃片、陶瓷片等基片上行涂布光刻(感光)胶的用设备。本机的作原理是利用速旋转时产生的离心力,将滴于基片上多余的光刻(感光)胶液甩去,在光刻(感光)胶表面张力和离心力的共同作用下,展成厚度均匀的胶膜。本机具有匀胶效率、使用方便等优点,匀胶速度和匀胶时间分别可调,电器电路具有较

发布日期:2025-04-18

型号:GP/SJT-A

厂商性质:生产厂家

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GP/SJT-B台式数显匀胶台

台式数显匀胶台 数显匀胶台 匀胶台 型号:GP/SJT-B GP/ SJT系列数显匀胶台是集成电路、半导体电路、掩模版制、激光息商标制过程中用于在基片上行光刻胶涂布的用设备。

发布日期:2025-04-27

型号:GP/SJT-B

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