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数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C
概述
HAD-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直四探针法》并参考美 A
产品分类
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品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 能源,电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气 |
数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C
台式四探针电阻率测试仪概述
HAD-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校能;电压电自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类能,大分类10类。
探头选配:根据不同材料性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台,也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量)
电 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方块电阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径: HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
长()度: 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm()
净 重:≤1.5~2.0kg
2.分离式土压力计 土压力计 型号:H16347
承压薄板与传感器分离的结构,是按照土压力测试理论的要求而设计的,能大大降低土压计埋设位置上土应力集中的现象,匹配特性好,测点应力场畸变小,保证了测量精度,适合于土中应力的测定。等效弹性膜量的提高,能保证边界土压力的测量精度,所以也适合于边界土压力的测定。
测量范围: 0~0.1、0.2、0.3、0.4、0.5、0.6、0.8、1.0、2.0 (MPa)
分辨率: <0.2% F.S
综合误差: <1.5% F.S
尺寸: 承压板 Φ140×9(mm) 总长 410(mm)
工作温度: -30~70℃
4.单膜土压力计 土压力计 型号:H16346
工作面为单膜结构,该种土压计应用历史较长,生产工艺成熟,性能稳定。适合对软土介质等均布边界土压力的测定,也可用于流体压力的测定。
测量范围: 0~0.1、0.2、0.3、0.4、0.5、0.6、0.8、1.0、2.0 (MPa)
分辨率: <0.2% F.S
综合误差: <1.0% F.S
尺寸: Φ110×25(mm)
工作温度: -30~70℃
5.双膜土压力计 土压力计 型号:H16345
双膜土压力计 活塞式双膜结构。工作面受力变形特征是平面位移,对不同性质和粒径的介质,有良好的适应性。适用于边界土压力的测定,也可用于冻土冻胀力和刚性单体压力的测定。
测量范围: 0~0.1、0.2、0.3、0.4、0.5、0.6、0.8、1.0、2.0、3.0、4.0、5.0、6.0、8.0、10.0 (MPa)
分辨率: <0.2% F.S
综合误差: <1.0% F.S
尺寸: Φ110×32(mm)±
工作温度: -30~70℃
八篮恒温烘箱 型号:H16344
【适用范围】:用于各种纤维、纱线、纺织品回潮率(或含水率)测定及其他恒温烘干。
【相关标准】:GB/T9995、ISO6741.1、ISO2060
【技术参数】:
1温度范围 室温~150℃
2控制精度 ±2℃
3天平称量 300g感量:0.01g
4 外形尺寸 L960×W810×H1150
以上参数资料与图片相对应
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