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浊度根分析仪

产品简介

浊度根分析仪/浊度分析仪/浊度检测仪/浊度测定仪/实验室浊度计 型号:HAD-12C

产品简介:
硅酸根分析仪、磷酸根分析仪、联氨分析仪、铁含量分析仪、铜含量分析仪、浊度分析仪是我司业水质分析程师制的种采用光电子制的智能型用光度检测仪,适用于纯水及纯水中微量及恒量硅酸根、磷酸根、联氨、铁离子、铜离子、浊度的定量测定。

产品型号:HAD-12C
更新时间:2025-03-20
厂商性质:生产厂家
访问量:459
详细介绍
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域能源,电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气

浊度根分析仪/浊度分析仪/浊度检测仪/浊度测定仪/实验室浊度计 型号:HAD-12C

浊度根分析仪产品简介:
   硅酸根分析仪、磷酸根分析仪、联氨分析仪、铁含量分析仪、铜含量分析仪、浊度分析仪是我司业水质分析程师制的种采用光电子制的智能型用光度检测仪,适用于纯水及纯水中微量及恒量硅酸根、磷酸根、联氨、铁离子、铜离子、浊度的定量测定。
典型应用:
   可广泛的运用火力发电厂电厂除盐水、蒸汽冷凝水、炉水及化、制药、化纤、半导体行业等行业样水中硅酸根、磷酸根、铁、铜、联氨、氨、浊度等元素的定量测定。

标准:本仪器采用际标准ISO7027中规定的福尔马肼(Formazine)浊度标准
产品点
★  光源采用口单色冷光源 ,性能优良,信号十分稳定,耗低,寿命长
   保证使用20年以上,充分保证测量的稳定性和准确度;
★  接收光电池采用口元件,充分保证了测量的稳定性和准确度
★  路采用了空气压缩与虹吸原理避免多个样品之间测量时各水样之间的交 叉影响;
★  480X272点阵彩色液晶,可选择显示中文或英文;
★  配备坚固的防水外壳,只需要使用不加何试剂的水行校准,大大简化了校准过程,提了作效率;
★  有的线性校准能,实现宽范围测量;
★  简单的八键位,操作快速、简单,背光可调;
★  富士通单片机,性能,低耗;
★  自动计时提醒能,方便操作者使用,提作效率 ;
★  循环数据存储能,自动清除溢出数据,操作简单,查询方便;
★  的贴片及体化,提了性价比和可靠性;
★  光度计采用新的模糊PID恒温控制,保证测量的稳定性;
标:
测量范围:     可选(0.00~100)NTU,(100~1000)NTU
仪器示值误差: ±1%F.S  
分 辨 率:     0.1μg/L
重 复 性:     不大于1%
稳定性(漂移):  ±1%F.S/8h
环境温度:     5~55℃
环境湿度:     不大于90%RH(无冷凝)
显  示:       480X272点阵彩色液晶,中文显示
外形尺寸:     380 mm×180 mm×255mm(长×宽×)
供电电源:     (85~265)VAC 频率 (45~65)Hz
     率:   35W
重      量:   3.8kg

注三种型号区别

HAD-12A 480X272点阵清彩色液晶,可选择显示中文或英文

HAD-12B 口单片机处理器,稳定性提至8H以上减少漂移

HAD-12C 口单片机处理器,光源及光源接收器,误差±1%F.S





2.个人剂量仪/射线报警仪 型号:HAD-RAY-2000A

 

HAD-RAY-2000A个人剂量仪(射线报警仪)是一款智能小型仪器,利用新型单片机技术制作而成,可在较恶劣环境下工作,具有很强的抗干扰能力,主要用来检测χ射线和γ射线,从汉显液晶屏能直接读出射线“剂量率:";射线“累积剂量:"和“存储累积剂量:"。在测量范围内,可以固定或预置报警阈值,超过阈值或阻塞时发出声光报警,防止超量剂量,保护工作人员安全。该仪器功耗低、功能多、体积小、佩带方便。广泛应用于工业探伤、核医学、海关、民用防护等系统的日常辐射监测,确保个人剂量仪使用者的人身安全。

特点:

灵敏度高,稳定可靠;

超大液晶显示,并有汉字显示功能,状态显示一目了然。

 

测量射线剂量率,同时显示剂量率和累积剂量,有多种报警功能;

具有累积剂量存储功能,断电后数据可保存不丢失。

功耗低,体积小,携带方便。

仪器操作简单,使用方便。

 

 

 

 

二、产品性能

 

1G-M计数管经补偿,低能响应得到提高。

 

2、仪器灵敏度高,对环境本底会有响应。

 

3、适用辐射场合γ、χ射线。

 

4、测量范围:剂量率:0.01usv/h5msv/h

 

             累积剂量:5位液晶显示000.01999.99msv

 

5、能响:<±30%50KeV1.3MeV)。

 

6、相对基本误差:<±10%137Cs 662 KeVγ辐射1msv/h)。

 

7、报警响应时间:≤3秒。

 

8、报警功能

 

剂量率阈值报警:报警阈值为0.51.02.5103050usv/h

 

9、本仪器具有累积剂量存储功能。断电后存储器的数据可保存不丢失,可进行100万次存储擦除。

 

10、电池欠压指示:在仪器液晶右上角显示电池电压图标,电量标示满三格电池电量大约2.8V-3.2V,电量标示二格电池电量大约2.5V-2.8V,电量标示一格电池电量大约2.1V-2.5V,电量标示无格电池电量在2.1V以下,处于欠电状态。

 

11、工作环境要求:温度:-10 -- +50℃ 湿度:达90%(无冷凝)

 

 

 

3.里氏硬度计/里氏硬度仪/手持式里氏硬度计 型号:HAD-YD-1000C

 

HAD-YD-1000C型里氏硬度计是一种新型的手持式、多功能动态硬度测试仪器,它采用的微处理器技术设计而成。  

    HAD-YD-1000C型里氏硬度计具有测试精度高、性能稳定可靠、体积小、操作容易、携带方便、测量范围宽等特点,适用于金属材料的快速硬度测试,特别适宜对大型零部件及不可拆卸部件的现场硬度测试。它能把测得的里氏值根据不同材料、不同方向自动转换成布氏、洛氏、维氏、肖氏等硬度值并打印记录,是一种较理想的硬度测试仪器。

二、产品性能

1. 主要用途:   

·大批量生产中产品的硬度检测。   

·安装后的机械或性组装部件的现场硬度检测。   

·重型工件的硬度检测。   

·机械部件狭小空间的硬度检测。   

·设备的失效分析。   

·仓库金属材料区分。   

·退火、回火、淬火等热处理的硬度控制检测。   

2. 主要技术参数   

测量精度:在同一测量范围内,多次试验值的平均测量误差,不大于±0.8%(相对于800±50HL范围内)。自动换算成布氏(HB)、洛氏(HRCHRB)、维氏(HV)硬度值时,其测量误差为±3~±12.5%,换算成肖氏(HSD)硬度值时,其测量误差为±1.5~±4.5%。   

工作温度:0~40℃   

工作电压:4.7V~6.0V   

测试方向:五种   

整机重量:0.67kg(标准配置:硬度计+D型冲击装置)   

外形尺寸:268×86×47mm   

一次充电工作时间:约8~24小时   

3. 主要功能   

·可在测试过程中随时打开或关闭背光照明;   

·可通过键盘预置测试日期;   

·可通过键盘选择测试方向、测试材料;   

·可配置5种不同种类的冲击装置(DDCD+15CG);   

·可实现六种硬度(HLHRCHRBHBHVHSD)间的相互转换及硬度与抗拉强度间的相互转换;   

·可打印无数份的试验结果,并可删除粗大误差;   

·全屏幕显示当前的测试状态及测试值;   

·关机后,能记忆上一组测试结果及所有预置参数;   

·自动显示电池电压,当工作电压低于额定值时,屏幕字符闪烁报警。   

4. 冲击装置   

本硬度计可配置5种不同的冲击装置,其中D型为基本型,   

其余4种可应用于特殊场合的硬度测试。   

·冲击装置D:用于大部分硬度检测。   

·冲击装置DC:用于非常局促地方(孔内、圆柱筒内)的硬度检测。   

 

 

 

 

4.ROHS及无卤素检测仪 ROHS及无卤素测试仪 型号:H17418

产品详情: 

H17418是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。可进行无卤素(氯Cl、溴Br、碘I)测量它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。

 

整机技术规格:

激发源:本机采用低功率 X 射线管(Ag靶),最高电压可达50KV,最大电流1mA

高压电源:最大50W,50KV,1mA

探测器:电制冷   Si PIN半导体探测器(55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于149eV)

多道分析器:2048道

软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法,理论a系数法和基本参数法。定性分析包括: KL线标记,谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法。

6电源:交流220V  50Hz

7体积:520mm  x  600mm  x  270mm

8重量:约 42kg  (主机)

 

整机技术性能:

测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量

可测量含量范围,从ppm至100%

测量速度快,通常为几十秒到几分钟

多元素同时定性定量

蜂位漂移:八小时小于1%

 

进口探测器的性能指标:

探测器类型:电制冷Si-PIN

探测面积:2.4x2.8mm(6mm2

硅活化区厚度:500um

探测器分辨率: 对于55Fe,@5.9keV  对于12us的形成时间,半高宽为149Ev

探测器窗口:铍窗,12.5um厚

 

进口高压电源规格:

电压和电流从零至满量程连续可调,最大50KV,1mA

电压调整率:负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 %

线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程的0.01%

电流调整率:负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%

        ;      线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01%

稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05%

温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01%

 

 

 

 

 

5.贵金属检测仪 贵金属测试仪 型号:H17417

 

产品详情:

 

X-3680 贵金属检测仪

产品型号:H17417

产品详情:

H17417是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。

仪器检测能力强,分辨率高,适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al13号元素)到U92号元素)。无损分析迅速,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。

 

强势功能

1. 基本参数法对从铝(13号元素)至铀(92号元素)定性分析测量。

2.包裹样品检测辨别系统。

3.样品室高清成像定位系统,方便微小样品定位测量。

4.电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合,维持内部工作环境稳定。

5. 内部动力学风道设计,快速排出多余热量。

6.双峰位快速自动校准。

7.双箱体结构,抗干扰能力强且方便硬件升级。

8.仪器工作方法任意开发。

9. 定量分析:包括经验系数法,理论a系数法和基本参数法。

10.定性分析:包括Kl谱线标记法,谱图比较法,光标自动寻峰等。

11.测试报表根据客户要求独立设计。

12.温度系数:温度变化1度,电压变化不超过0.01%

13.稳定性:经过半个小时预热后,每8小时变化不超过0.05%

14.准直器:使用特殊的滤波片自动更换,提高高能区的峰背比。

15.彩色液晶显示屏

16.自主研发的多功能数字集成新型放大器,提高降噪比。

 以上参数资料与图片相对应



















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